摘要：电池管理芯片作为移动电源、储能设备的核心组件，其模数转换器（ADC）的精度直接影响电池性能。本文针对电池管理芯片ADC中并联电阻分压型DAC(R-R DAC)在工艺偏差下产生的电阻失配问题，提出了一种自适应校准方法，该方法检测待校准电阻电压值并与基准电阻的分压比较，通过逐次逼近逻辑控制修调电阻串中修调电阻的串联和旁路，抑制失配对精度的影响。基于0.35μm商用BCD工艺完成了一款应用于电池管理芯片的12位20kSPS SAR ADC的详细设计。验证结果表明，在实际工艺偏差下，自适应校准方法将DNL由-2.7～+3.3LSB降低至-0.4～+0.4LSB，INL范围由-2.2～+2.7LSB降低至-0.4～+0.5LSB。信噪失真比达到72.66dB，有效位数可达到11.77bit，无杂散动态范围76.88dB。
文章目录
0 引 言
1 并联电阻分压型DAC的误差来源分析
2 分段电阻分压型DAC精度提升方法研究
2.1 增益误差的抑制方法
2.2 失配导致误差的抑制方法
3 采用自适应校准DAC的高精度SAR ADC的设计与实现
4 验证结果与数据分析
5 结 论
